本發明揭示了一種基于測試向量亂序和丟棄行為的驗證方法,亂序包括調度亂序和流水線亂序,所述驗證方法包括:S1,基于測試向量分組法的調度亂序驗證過程;S2,基于測試向量特征值的流水線亂序驗證過程;S3,基于測試向量特征值的丟棄驗證過程。本發明有效地解決了芯片測試中測試向量亂序和丟棄所引起的記分板比對失效的問題,同時,解決了傳統方法中帶來的參考模型復雜度高,與DUT過于耦合等問題。
聲明:
“基于測試向量亂序和丟棄行為的驗證方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)