本發明公開了一種存儲芯片性能的測試方法及裝置。該方法包括:向待測試存儲芯片執行設定數量的全盤寫入和讀取操作;在全盤寫入的過程中,對待測試存儲芯片所包括的每個存儲單元,進行擦除次數計數并記錄;在全盤讀取之后,將讀取數據與寫入數據進行比對,以記錄每個存儲單元的錯誤位數;在全盤寫入和讀取的過程中,記錄寫入性能參數和讀取性能參數;重復執行上述測試過程,直至所述待測試存儲芯片老化失效。通過本發明的技術方案,能夠對存儲芯片的老化性能進行有效測試。
聲明:
“存儲芯片性能的測試方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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