本發明公開了一種機載電子信息裝備BIT虛警率預計的方法,涉及電路產品測試性設計領域,包括待分析的電子信息裝備及構成所述電子信息裝備的元器件,該方法還包括以下步驟:獲取所述電子信息裝備的失效率記為λs及所述電子信息裝備內BITE裝置及監測電路總的失效率記為λn;獲取所述電子信息裝備的任務持續時間ts;計算在所述任務持續時間內發生虛警的概率PA;計算在所述任務持續時間內發生的BIT虛警率γFA;本發明提供了一種有效的方法,使電子設備在設計階段能對產品的BIT虛警率進行量化評估,以提升電子信息裝備的測試性設計水平。
聲明:
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