本發明公開了一種FIB樣品座,包括樣品座本體和底座,其中樣品座本體與底座為一體結構,所述樣品座采用防磁導電金屬制成,所述樣品座本體為六面體結構,該六面體的底面與頂面平行,四個側面中至少一個側面垂直于底面且至少一個側面與底面的夾角α為40°~55°。本發明的樣品座可以同時放置平面TEM樣品、截面TEM樣品以及FIB標記樣品,從而可以提高物性失效分析的效率,延長螺紋連接的使用壽命,保持FIB真空值以提高FIB電子束的分辨率;同時與底面形成夾角的側面上可同時放置FIB標記樣品,從而減少進行共聚焦點高度Eucentric?Height的時間。
聲明:
“FIB樣品座” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)