• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 半導體存儲裝置

    半導體存儲裝置

    1166   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:47
    設置了在使擾動測試信號(TESTUBBS)和自刷新信號(/BBU)激活時使小電壓值檢測器(38)激活而且可使大電壓值檢測器(36)失效的切換電路(40)。因此,不僅在擾動測試方式時,而且在自刷新方式時,由基板電壓發生電路(34)發生與小電壓值檢測器(38)的檢測電壓值相等的低的基板電壓(VBB)。結果,能夠防止因增設小電壓值檢測器(38)而導致的面積的增大。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “半導體存儲裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>