本發明公開了一種在役電子系統可靠性評估方法,包括以下步驟:步驟1,給電子系統供電,獲取電子系統溫度分布圖像序列;步驟2,提取元器件子塊區域;步驟3,獲得各元器件的溫度值隨時間變化的序列數據;步驟4,建立維納過程模型,得到電子系統的可靠度函數;步驟5,以各元器件工作溫度連續兩次超過安全閾值的時間間隔為隨機變量,根據極大似然估計法確定漂移參數與擴散系數的先驗估計值;步驟6,采用貝葉斯方法逐步更新模型參數,計算得到漂移系數與擴散系數的后驗估計值,從而估算電子系統在不同退化程度下的可靠度。本發明采用兩次越過閾值的時間間隔來進行失效分析和可靠性評估,具有良好的魯棒性和準確性。
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