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    應用于掃描電子顯微鏡的樣品座

    804   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:01:24
    本實用新型涉及應用于掃描電子顯微鏡的樣品座,屬于半導體芯片制造行業的失效分析領域。該樣品座包括底座、設置于底座頂部的金屬平臺以及位于金屬平臺的工作面的彈性夾具,芯片樣品直接放置在金屬平臺的工作面,所述彈性夾具壓住芯片樣品、并將芯片樣品固定于金屬平臺的工作面。本實用新型避免了使用現有技術中的雙面導電膠,增加了導電性、改善了SEM圖像質量,避免了取樣時的破損,減少了污染,節約了成本。
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