• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法

    對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法

    804   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:02:33
    本發明公開一種對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法,屬于CMOS集成電路技術領域。通過編程器對一次可編程存儲器芯片的冗余行進行編程并校驗,剔除校驗失敗的芯片;對一次可編程存儲器芯片進行空片檢查,剔除檢查失敗的芯片;通過編程器對一次可編程存儲器芯片的冗余列進行編程并校驗,剔除校驗失敗的芯片;再次對一次可編程存儲器芯片進行空片檢查,剔除檢查失敗的芯片;對一次可編程存儲器芯片進行動態老煉,誘導有潛在缺陷的芯片發生早期失效;進行全片讀取校驗,剔除發生錯誤的芯片。本發明提供的方法可以有效剔除有工藝缺陷或參數不達標的芯片,具有很高的應用價值。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “對一次可編程存儲器芯片進行篩選的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>