Candela® 8420 表面缺陷檢測系統
Candela 8420是一種表面缺陷檢測系統,它使用多通道檢測和基于規則的缺陷分類,對不透明、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、
磷化銦、鉭酸
鋰、鈮酸鋰、玻璃、藍寶石和其他化合物
半導體材料)提供微粒和劃痕檢測。8420表面缺陷檢測系統采用了OSA(光學表面分析儀)架構,可以同時測量散射強度、形貌變化、表面反射率和相位變化,從而對各種關鍵缺陷進行自動檢測與分類。只需幾分鐘即可完成全晶圓檢測,并生成高分辨率圖像和自動化檢測報告,同時附帶缺陷分類和晶圓圖。
產品說明
Candela 8420晶圓檢測系統可以檢測不透明、半透明和透明晶圓(包括玻璃、單面拋光藍寶石、雙面拋光藍寶石)的表面缺陷和微粒;滑移線;砷化鎵和磷化銦的凹坑和凸起;表面haze map;以及鉭酸鋰、鈮酸鋰和其他先進材料的缺陷。8420表面檢測系統用于化合物半導體工藝控制(晶圓清潔、外延前后)。其先進的多通道設計提供了比單通道技術更高的靈敏度。CS20R配置的光學器件經過優化,可用于檢測化合物半導體材料,包括光敏薄膜。
功能
檢測直徑達200毫米不透明、半透明和透明化合物半導體材料上的缺陷
手動模式支持掃描不規則晶圓
支持各種晶圓厚度
適用于微粒、劃痕、凹坑、凸起和沾污等宏觀缺陷
應用案例
襯底質量控制
襯底供應商對比
入廠晶圓質量控制 (IQC)
出廠晶圓質量控制 (OQC)
CMP(化學機械拋光工藝)/拋光工藝控制
晶圓清潔工藝控制
外延工藝控制
襯底與外延缺陷關聯
外延反應器供應商的對比
工藝機臺監控
行業
包括垂直腔面發射激光器在內的光子學
LED
通信(5G、激光雷達、傳感器)
其他化合物半導體器件
選項
SECS-GEM
信號燈塔
金剛石劃線
校準標準
離線軟件
光學字符識別 (OCR)
CS20R配置用于檢測光敏薄膜