相移剪切電子散斑干涉儀
產品詳情
剪切電子散斑干涉是通過錯位(剪切)光學元件,將物體表面的不同區域成像在同一像面上產生干涉的一種干涉測量技術。通過比較變形前后的干涉圖案,可以方便地獲得代表物體表面離面位移沿剪切方向斜率變化的干涉條紋。由于結合相移技術,大大提高了相移剪切電子散斑干涉儀測量離面位移變化率的靈敏度。儀器配有電子散斑條紋實時處理軟件,具有操作簡單、對測量環境要求低等優點,可用于現場測量。
技術參數
圖像采集:2448×2048 分辨率,60fps,USB3.0
鏡頭:25mm定焦鏡頭(標配,可選配鏡頭),C接口
光源:半導體激光器(輸出功率200mW、波長532nm/633nm)
測量分辨率:1/20級條紋
測量范圍:120mm×100mm -300mm×250mm
工作距離:400 - 1000mm
剪切角調節:0°-±5°連續可調
標準試樣:Φ100mm 圓盤試樣
軟件:具備條紋實時顯示以及圖像處理功能
硬件功能指標
相機:2448×2048 分辨率,60fps,USB3.0
鏡頭:5mm定焦鏡頭(標配,可選配鏡頭)
壓電陶瓷:方形壓電陶瓷,最大驅動電壓150V
壓電控制器:通過附帶的USB電纜連接電腦,包含兩個雙向觸發端口,可用于讀取5V外部邏輯信號或輸出5V邏輯信號以控制外部設備。
光源:半導體激光器,輸出功率200mW、波長532nm/633nm(可選配)
光學組件:定制化分光棱鏡
標準試樣:Φ100mm圓盤試樣
軟件功能指標:
相機控制:設置相機采集參數,控制采集模式:單圖采集、多圖采集、錄制模式、實時相減模式
軟硬件協同控制:軟件設置采集時的步進電壓,同時控制相機采集圖片,實現軟硬件協同控制
圖像處理:可對采集數據進行多種形態學處理
兼容多種導出格式:可導出多種數據類型的采集數據
圖像分析:對采集數據進行分析計算,如:相移、相位包裹、逐行解包裹、基于質量的解包裹等
三維顯示:具有獨立三維渲染功能
應用范圍:相移剪切電子散斑干涉儀配合紅外加熱或聲波激振等技術,可以用于
復合材料內部缺陷檢測。在航空航天、風電葉片以及
碳纖維加固等領域有著廣泛應用。該儀器也是光測力學教學必備的儀器設備。