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工作原理
JXF-8000采用能量色散X射線熒光光譜（ED-XRF）技術，通過高壓X光管激發樣品表面元素，探測器捕獲特征熒光X射線能量及強度，結合經驗系數法與基本參數法（FP法）分析軟件，實現多元素快速定量。其新型光路設計顯著降低氯元素檢出下限，配合開放式工作曲線平臺，用戶可自定義標樣數據，適配復雜基體樣品分析需求。
應用范圍
設備廣泛應用于電子電器（PCB、焊錫、連接器）、五金材料（金屬板材、緊固件）、照明設備、玩具及汽車零部件等行業，支持RoHS 2.0、無鹵素指令（IEC 61249-2-21）、美國CPSIA、加州65號提案等全球環保法規的合規篩查，同時適用于金屬珠寶成分分析及鍍層厚度檢測。
技術參數
檢測范圍：S-U元素（含鹵素Cl、Br及重金屬Pb、Cd、Cr、Hg等）
檢測下限：Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm
測量時間：30-100秒/樣品
探測器：美國Amptek Si-PIN探測器，分辨率140±5eV，能量響應1keV-40keV
X光管：Mo靶材，最大功率50W，電壓0-50kV可調
樣品室：大空間設計，支持開蓋測試無限大樣品（含保護機制）
產品特點
精準高效：全譜圖對比功能實時追蹤物料異常，滿足IEC62321標準報告生成需求，支持多語種軟件界面及Excel/PDF格式輸出。
安全可靠：三重射線防護系統（軟件+硬件+迷宮設計）與自動警示功能，確保操作人員安全。
靈活適配：開放式工作曲線平臺支持用戶擴展檢測項目，兼容環保指令后期升級需求。
智能便捷：800萬像素高清CCD定位樣品，三維散熱系統提升穩定性，維護成本低且操作簡單。
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青海 - 西寧
2025年07月09日 ~ 11日
