工作原理
JV-2000采用能量色散X射線熒光光譜(ED-XRF)技術,通過高壓激發X射線管產生高能X射線,穿透樣品表面后激發其原子內層電子躍遷,釋放出與元素種類對應的特征熒光X射線。設備搭載高分辨率硅漂移探測器(SDD),精準捕獲鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價鉻(Cr??)、多溴聯苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)等RoHS 2.0管控元素的特征譜線,結合智能FP(基本參數法)分析算法,自動修正基體效應干擾,實現元素含量的快速定量分析。其獨創的“動態光路優化系統”可實時調整X射線角度與功率,確保檢測結果穩定可靠。
應用范圍
JV-2000覆蓋電子電器、新能源、汽車電子、玩具制造等行業,滿足RoHS 2.0指令對十項有害物質(含四種鄰苯二甲酸酯擴展項)的檢測需求,同時支持無鹵(Cl、Br)指令及REACH法規管控物質的篩查。典型應用場景包括:原材料入廠檢測、生產過程質量監控、成品合規驗證及供應商物料抽檢,助力企業構建全生命周期環保管控體系。
技術參數
元素檢測范圍:Na(鈉)-U(鈾),覆蓋RoHS 2.0全部管控元素;
檢測下限:Pb≤5ppm,Cd≤2ppm,Hg≤2ppm,Br≤5ppm;
檢測時間:單樣品檢測≤90秒,支持批量連續測試;
樣品腔設計:開放式腔體(適配樣品尺寸≥50mm×50mm),兼容固體、液體及粉末樣品;
安全防護:三重射線防護系統(軟件限值、硬件屏蔽、迷宮光路),符合GB/T 19268標準。
產品特點
智能化操作:10.1英寸高清觸摸屏搭配中文界面,支持一鍵檢測、自動保存報告及數據導出,操作門檻低;
高精度與穩定性:采用進口X射線管與SDD探測器,重復性RSD≤1%,設備壽命長達5年以上;
合規保障:內置RoHS 2.0、REACH等法規標準庫,數據符合GLP規范,支持審計追蹤,助力企業快速通過環保審核;
低維護成本:模塊化設計便于快速更換耗材,光管與探測器維護周期長達2年,降低長期使用成本。