工作原理:
SJ-2100采用接觸式測量原理,內置高精度壓電陶瓷傳感器驅動金剛石觸針(針尖半徑0.5μm)沿被測表面勻速滑動。觸針隨表面微觀幾何形貌產生垂直位移,位移信號經納米級位移傳感器轉換為電信號后,由32位高速DSP處理器進行實時濾波、放大及參數計算。儀器依據ISO 4287、ISO 25178雙標準算法,從觸針位移曲線中提取Ra、Rz、Sq、Sa等20余項二維/三維粗糙度參數,并通過3.5英寸高清彩色液晶屏同步顯示三維形貌圖與參數曲線,確保數據精準可溯。
應用范圍:
廣泛應用于精密機械加工(軸承、齒輪、模具表面光潔度檢測)、半導體制造(晶圓表面粗糙度控制、光刻膠涂層均勻性分析)、航空航天(航空發動機葉片涂層質量驗證、渦輪盤微結構表征)、汽車制造(發動機缸體、變速器殼體加工質量評估)及生物醫療(人工關節表面處理效果檢測)等領域。支持超光滑表面(Ra<0.001μm)至粗糙加工面(Ra>10μm)的全范圍檢測,可替代傳統觸針式輪廓儀、光學干涉儀完成生產線快速篩查與實驗室精密分析。
產品技術參數:
測量參數:Ra、Rz、Rq、Rt、Sq、Sz等22項國際標準參數;垂直分辨率:0.001μm;水平分辨率:0.1μm;測量范圍:0-160μm;取樣長度:0.08-10mm可調;驅動速度:0.05-2mm/s;重復性:≤0.3%;顯示方式:3.5英寸TFT彩色液晶屏,支持三維形貌重建與多參數對比分析;數據存儲:30000組測量數據,支持USB/Wi-Fi雙通道傳輸;電源:可充電鋰電池,連續工作15小時;防護等級:IP54,適應-10℃至50℃環境;尺寸:180mm×70mm×25mm,重量僅320g。
產品特點:
納米級測量精度,重復性穩定,滿足高端制造嚴苛需求;輕量化設計,單手可握,適配復雜曲面檢測場景;智能形貌重建算法,10秒內完成三維建模與參數分析;一鍵式自動校準與振動補償功能,簡化操作流程;符合ISO、GB、DIN等多國標準,是表面質量檢測領域的性價比優選。