HORIBA UVISEL Plus 相位調制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設備，數據處理和高速單色儀，Fastacq技術能夠為用戶提供高分辨及快速的數據采集。FastAcq為薄膜表征特殊設計，雙調制技術使您可以獲得完整的測試結果。
HORIBA UVISEL Plus 橢圓偏振光譜儀產品介紹：
HORIBA UVISEL Plus 相位調制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設備，數據處理和高速單色儀，Fastacq技術能夠為用戶提供高分辨及快速的數據采集。FastAcq為薄膜表征特殊設計，雙調制技術使您可以獲得完整的測試結果。相位調制與消色差光學設計的結合提供了特別的膜厚測試效果。配備雙單色儀系統的特殊設計滿足用戶的期望值，通過模塊化的設計，更多的附件選擇，使得儀器使用能變得靈活?？梢员碚鞲鞣N薄膜材料,包括介電薄膜、半導體、有機物、金屬、超材料和納米材料等。
HORIBA UVISEL Plus 橢偏儀是利用薄膜的光學特性進行膜厚測量的非接觸測量方法?；谄窆夥瓷浠蛲干鋾r的狀態變化來測量薄膜的厚度和折射率。當偏振光照射到薄膜表面時，反射光或透射光的偏振狀態會發生變化，這種變化依賴于薄膜的厚度、折射率以及入射光的偏振狀態和角度。通過分析這些變化，可以準確地推導出薄膜的厚度。
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河南 - 洛陽
2025年07月18日 ~ 20日
