工作原理
DSF-R2基于X射線熒光光譜技術,通過高壓X光管激發樣品表面原子,使外層電子躍遷至高能態后釋放特征X射線熒光。儀器搭載高分辨率SDD硅漂移探測器,精準捕捉熒光能量并轉化為電信號,結合數字多道分析系統實現多元素同步定量分析。其智能真空系統可自動切換空氣/真空模式,有效降低輕元素(如Na、Mg)的檢測干擾,同時配備8種可調準直器與4種濾光片,適配不同樣品形態與檢測需求。
應用范圍
覆蓋多行業元素分析場景:金屬加工領域支持合金牌號鑒定(如不銹鋼、鋁合金)及有害元素(Pb、Cd)篩查;地質勘探中可快速分析巖石、土壤中的主量及微量元素;環保行業用于電子廢棄物、污染土壤的重金屬(Cr、Hg)檢測;工業材料領域可測定陶瓷、玻璃的成分比例及涂層厚度。設備支持固體、粉末、液體等多種樣品形態,滿足實驗室與現場檢測雙重需求。
技術參數
元素范圍:硫(S)至鈾(U),覆蓋25種以上元素
檢測限:低至2ppm,輕元素檢出能力達0.005μm
分辨率:SDD探測器實現125eV能量分辨率
功率與穩定性:50kV高壓發生器,管流≤1000μA,支持24小時連續穩定運行
智能配置:內置高清工業攝像頭、2D全自動移動樣品臺,支持圖像聯動多點測試
產品特點
高效精準:1秒內完成單點檢測,重復性誤差≤0.5%,數據可靠性達實驗室級標準。
無損便捷:非破壞性分析避免樣品損耗,200目粉末或塊狀樣品直接測試,減少制樣成本。
安全智能:光閘聯動安全裝置與三重防護模式,確保操作人員輻射安全;預約預熱功能支持遠程啟動,提升檢測效率。
擴展性強:開放API接口兼容第三方軟件,支持定制化分析模型開發,適配不同行業標準(如RoHS、ELV指令)。