權利要求書： 1.利用機制砂石粉篩分裝置進行機制砂石粉形狀分類的方法，其特征在于：具體步驟如下：
（1）提取石粉顆粒：打開電動機和收集裝置開關，將機制砂倒入滾筒篩的進料口，機制砂通過滾筒篩，小于0.15mm的石粉顆粒落于傳送帶上，傳送帶上的石粉顆粒通過收集裝置時，小于0.075mm的機制砂顆粒在電場力的作用下吸附于正極板上；
（2）收集石粉顆粒：吸附完成后，取收集盒置于正極板下方，輕彈正極板，石粉顆粒落入收集盒內完成收集，關閉電動機與收集裝置開關；
（3）鑒定分類：利用電子顯微鏡對收集盒內的是否顆粒進行拍照觀察，對石粉顆粒形狀進行鑒定，并歸類；具體步驟為：
A、通過電子顯微鏡對石粉顆粒的不同位置的直徑進行共10次測量并取平均值為H，對石粉顆粒的凸起處形成的最大直徑進行測量得L，將最大直徑減去平均直徑得出凸起高度*
為h，并將石粉顆粒的凸起與石粉顆粒直徑平均值進行對比，計算公式為：h=L?H；W=h/H
100%；式中：W?石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑平均值的百分比；L?石粉顆粒在凸起處的石粉顆粒直徑長度；h?石粉顆粒凸起高度；H?石粉顆粒多次直徑平均值；
對于同一石粉顆粒內凸起的W的最大數值，W數值小于20%時為1區，大于20%小于40%為2區，其余為3區；
B、通過電子顯微鏡對凹坑面積進行計算：形狀規則凹坑通過測量邊對凹坑通過對應的形狀面積計算方法進行面積計算；對于不規則凹坑，通過電子顯微鏡對石粉顆粒不規則的凹坑的邊緣距離進行多次測量并取平均值；將石粉顆粒通過圓形面積計算方式對石粉顆粒2
進行面積估算，計算公式為：s=2πR ；式中：s?凹坑面積；R?不規則凹坑穿過中心點的兩個邊緣點距離的平均值；
將石粉顆粒進行劃分，石粉顆粒劃分為若干規則形狀，對若干規則的形狀進行面積計算并相加得出石粉顆粒面積S；將石粉顆粒凹坑面積與石粉顆粒面積進行對比，計算公式*
為：Q=s/S 100%；式中：Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆?？偯娣e的百分比；s?石粉顆粒凹坑的面積；S?石粉顆?？偯娣e；
規定對于同一石粉顆粒內凹坑的Q的最大數值，Q數值小于20%時為a區，大于20%小于
40%為2區，其余為3區；
C、用0.5倍石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑百分比與0.5倍凹坑占總面積百分比之和，確定石粉顆粒的粗糙程度，計算
聲明：
“機制砂石粉篩分裝置及機制砂石粉形狀分類方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：中鐵十二局集團有限公司
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2025年07月09日 ~ 11日 
