權利要求書： 1.一種U型同步測厚儀，包括機架(10)，所述機架(10)內部設有用于移動片材的傳送輥(11)，其特征在于，所述機架(10)上還設有立架(12)，所述立架(12)上下兩端分別設有一個滑軌(20)，所述滑軌(20)上滑設有滑座(21)，兩個所述滑座(21)對向設置且二者其中之一上設有X射線發射器(31)，另一個上設有X射線接收器(32)，所述機架(10)上還設有繞繩輥(25)以及用于控制繞繩輥(25)轉動的動力軸(26)，所述繞繩輥(25)外側纏繞有拉繩(24)，所述拉繩(24)中部與所述繞繩輥(25)固定連接，所述拉繩(24)一端與一個所述滑座(21)固定連接，所述拉繩(24)另一端與另一個所述滑座(21)固定連接，所述滑座(21)與所述立架(12)之間還設有用于控制所述滑座(21)復位的壓簧(22)。2.根據權利要求1所述的一種U型同步測厚儀，其特征在于，所述立架(12)上還設有用于改變所述拉繩(24)移動方向的定滑輪(23)。3.根據權利要求1所述的一種U型同步測厚儀，其特征在于，一個所述滑座(21)上連接有第一伸縮線(33)，另一個所述滑座(21)上連接有第二伸縮線(34)，所述第一伸縮線(33)一端連接有處理器，所述第一伸縮線(33)另一端與所述X射線發射器(31)電性連接，所述第二伸縮線(34)一端與處理器電性連接，所述第二伸縮線(34)另一端與所述X射線接收器(32)電性連接。4.根據權利要求1所述的一種U型同步測厚儀，其特征在于，所述滑軌(20)一端與所述立架(12)固定連接，所述立架(12)另一端設有用于限制所述滑座(21)滑動范圍的限位塊(30)，所述限位塊(30)與所述滑軌(20)固定連接。 說明書： 一種U型同步測厚儀技術領域[0001] 本實用新型涉及測厚儀領域，特別地，涉及一種U型同步測厚儀。背景技術[0002] 測厚儀主要用于測量片材的厚度，由于部分頻率的光譜穿過不同厚度的片材時光譜強度會減弱，因此通過檢測特定頻率、固定強度的光譜穿過片材前后的強度變化經計算可得出片材厚度。[0003] 現有的片材厚度光譜檢測設備通常包括一個X射線發射器與一個X射線接收器，二者分別安裝于片材兩側的滑軌上，采用兩個步進電機利用程序控制X射線發射器與
聲明：
“U型同步測厚儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：管理員
來源：杭州揚濤科技有限公司
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2025年07月23日 ~ 26日 
