權利要求書： 1.一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：包括支架以及設置在所述支架上的成像裝置和輸送裝置，所述成像裝置包括相機、背光燈，所述相機設置在所述支架近端，所述背光燈設置在所述支架遠端，所述輸送裝置設置在所述相機與所述背光燈之間，所述輸送裝置用于輸送硅片，所述相機對所述硅片進行攝像。2.如權利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述成像裝置還包括補光燈，所述補光燈設置在所述相機與所述輸送裝置之間。3.如權利要求2所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述補光燈為紅外燈。4.如權利要求3所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述補光燈為具有中空結構的框型，所述中空結構的內徑大于所述硅片外徑。5.如權利要求4所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述補光燈光線與所述硅片具有45°夾角。6.如權利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述輸送裝置包括主動驅動件和被動驅動件，所述主動驅動件通過傳動帶與所述被動驅動件連接，所述主動驅動件與電機輸出端連接。7.如權利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述支架頂部設置殼體，所述相機設置在所述殼體內。8.如權利要求7所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述支架包括四根平行設置的豎桿，所述豎桿設置在所述殼體遠端的四角。9.如權利要求8所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：相鄰所述豎桿間設有滑軌，所述背光燈可滑動的設置在所述滑軌上。10.如權利要求1所述的一種用于高精度硅片的分選機檢測機構，其特征在于：所述用于高精度硅片的分選機檢測機構還包括處理器和顯示器，所述處理器具有一部分與所述相機連接，所述處理器具有另一部分與所述顯示器連接。 說明書： 一種用于高精度硅片的分選機檢測機構技術領域[0001] 本實用新型涉及硅片檢測技術領域，尤其涉及一種用于高精度硅片的分選機檢測機構。背景技術[0002] 硅片是光伏產業重要材料之一，作為太陽能電池片的載體，硅片的質量的好壞決定了太陽能電池片轉換效率的高低。因此，在高精度硅片分選機中，檢測硅片上的隱裂等缺陷是重要環節。[0003] 文
聲明：
“用于高精度硅片的分選機檢測機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：管理員
來源：無錫京運通科技有限公司
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2025年07月09日 ~ 11日 
