權利要求書： 1.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括：底座；連接板，所述連接板設于所述底座上，用于與芯片分選機電連接；測試座，設于所述底座上，所述測試座與所述連接板電連接，所述測試座具有用于放置芯片的測試槽。2.如權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于：所述測試座包括測試盒和盒蓋，所述測試盒與所述連接板電連接，所述測試盒具有所述測試槽，所述盒蓋鉸接于所述測試盒上，用于開閉所述測試槽。3.如權利要求2所述的芯片測試裝置，其特征在于：所述測試座還包括支撐柱和支撐板，所述支撐柱立設于所述底座上，所述支撐板設于所述支撐柱的頂部，所述測試盒設于所述支撐板的頂面。4.如權利要求3所述的芯片測試裝置，其特征在于：所述支撐柱設于所述底座的一端，所述連接板設于所述底座的另一端。5.如權利要求3所述的芯片測試裝置，其特征在于：所述支撐柱設于所述支撐板底部的一端，所述支撐板設于所述底座的上方，且所述支撐板沿豎直方向的投影位于所述底座沿豎直方向的投影范圍內。6.如權利要求2所述的芯片測試裝置，其特征在于：所述盒蓋具有觀察窗。7.一種芯片分選機，其特征在于，包括分選機本體以及如權利要求1?6任一項所述的芯片測試裝置，所述分選機本體與所述芯片測試裝置并聯設置。 說明書： 一種芯片測試裝置及包括其的芯片分選機技術領域[0001] 本實用新型涉及芯片技術領域，特別是涉及一種芯片測試裝置。背景技術[0002] 隨著芯片的應用范圍及功能特性的增強，越來越多的芯片被用在航空航天、汽車輪船、工業、以及軍事領域。由于芯片屬于電子元件的核心部件，保證質量合格的芯片對電子元件非常重要，所以需要對芯片的質量進行檢測。[0003] 目前，一般是采用大型的芯片分選機對芯片進行測試。由于芯片分選機通常為包括方向校正模塊、測試模塊、絲印模塊、位置校正模塊、光檢模塊、編帶模塊等多個模塊的復雜裝置，常用于整批芯片的測試，在對個別芯片進行測試或對單個芯片進行重復測試時較為不便。實用新型內容[0004] 本實用新型的目的是提供一種可單獨測試芯片、測試方便的芯片測試裝置。[0005] 為了實現上述目的，本實用新型提供了一種芯片測試裝置，其包括：[0006] 底座；[0007] 連接板，所述連接板設于所述底座上，用于與芯片分選機電連接
聲明：
“芯片測試裝置及包括其的芯片分選機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：廣東風華高新科技股份有限公司
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2025年07月09日 ~ 11日 
