本申請屬于礦漿分析儀技術領域,提供一種礦漿分析儀的冷卻系統,礦漿分析儀包括X熒光探頭,冷卻系統包括水箱和用于對水箱內部的循環水進行降溫的制冷裝置,X熒光探頭包括外殼體、內殼體和X射線管組件,X射線管組件設置在內殼體內部,內殼體設置在外殼體內部,外殼體內側壁與內殼體外側壁之間形成有過水間隙,外殼體上還設有進水口和出水口,所述進水口、出水口和間隙相互連通;所述外殼體的進水口與所述水箱之間連接有第一出水管路,所述外殼體的出水口與所述水箱之間連接有第一回水管路。本申請X熒光探頭的外殼體與內殼體之間通有冷卻循環水對X熒光探頭進行冷卻,能夠保護X熒光探頭,防止X熒光探頭內的X射線管組件因溫度過高而損壞。
聲明:
“礦漿分析儀的冷卻系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)