本發明屬于地質學同位素檢測技術領域,公開了一種富Hf礦物或巖石進行Hf同位素分析方法及系統,首先進行同位素分餾的校正計算,同位素分餾校正系數計算原理遵從瑞利分餾法則;然后用測試過程中β(Yb)的平均值來進行干擾校正;進而計算εHf(0)、εHf(t)、THf1、THf2和fLu/Hf值,用來解釋樣品的地質成因。本發明省卻了地質工作中手動計算的繁重工作,可為地質學工作提供更好的服務。
聲明:
“富Hf礦物或巖石進行Hf同位素分析方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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