本發明公開了一種獲取斷裂的垂直斷距的方法,所述方法包括以下步驟:獲取地質層面構造數據,所述地質層面構造數據包含多個取樣點的位置信息以及取樣點對應的海拔高程數據值;獲取斷裂上的斷距計算點位置;基于斷距計算點位置以及所述取樣點的位置信息分別確定所述斷裂兩側與所述斷距計算點位置對應的所述取樣點;提取所述地質層面構造數據中所述取樣點對應的所述海拔高程數據值;根據所述海拔高程數據值計算獲取相應的垂直斷距。與現有技術相比,根據本發明的方法可以獲取更加精細的斷裂的垂直斷距;同時,本發明的方法執行簡單,耗時低,使用本發明的方法獲取垂直斷距能夠顯著提高工作效率。
聲明:
“獲取斷裂的垂直斷距的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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