將不含貴金屬發射劑和樣品液依次滴加在單錸 帶的同一位置上,使樣品在電離過程中Nd+比NdO+ 的產額提高4-5個數量級,從而實現在質譜儀器上 用單錸帶直接測定Nd+,以確定樣品中Nd的準確含 量與同位素比值。本發明用于地質年代學中的年齡測定和同位素 示蹤應用;還用于稀土工業,尤其是高純稀土標準的 建立,礦石及稀土產品、制品中稀土含量的高精確度 測定;也適用于難以產生金屬離子的稀土及某些其它 元素(如La、Ce、Gd、Sm、U等)的分析測定。
聲明:
“用CX-1發射劑實現單錸帶直接測定Nd+的釹同位素分析新方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)