本發明公開了一種基于原子磁力計的高精度磁化率測量系統,包括:第一相干光源、第二相干光源、第一偏振分束器、第二偏振分束器、第三偏振分束器、1/4波片、半波片、平衡探測器、銣原子系綜、亥姆霍茲線圈、磁屏蔽罩、電磁鐵、引導管、引導線圈、真空泵、電磁閥、氣管。本發明基于銣原子系綜中產生的磁光旋轉效應,實現樣品極化磁場測量,極化磁場與電磁鐵產生磁場的比值為樣品極化率。本發明所述的測量系統在精密測量、地質勘探和生物磁場測量領域有很重要的應用前景。與傳統的磁化率計相比,本發明利用新興的超靈敏原子磁力計作為磁化探頭,在磁場測量靈敏度上有很大的提高。
聲明:
“基于原子磁力計的磁化率測量系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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