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    一種芯片外觀不良識別方法和系統

    845   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 06:25:53
    本發明提出了一種芯片外觀不良識別方法和系統,所述方法包括:在芯片進入電性能檢測裝置之前的傳送裝置上,對準備進行電性能檢測的待測芯片進行掃描和第一次自然數編碼;在電性能檢測裝置的過程中,將所述存在不良外觀標定識別碼及所述存在不良外觀標定識別碼的芯片所對應的第一次自然數編碼發送至所述電性能檢測裝置的控制系統中;在進入所述電性能檢測裝置之后,且在所述電性能檢測裝置在對每個芯片進行電性能檢測之前,按芯片傳送順序進行芯片掃描,并對掃描到的芯片進行第二次自然數編碼;利用所述不良外觀標定識別碼、第一次自然數編碼和第二次自然數編碼,確定是否對所述待測芯片進行電性能檢測。所述系統包括與所述方法步驟對應的模塊。
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