本實用新型涉及微電子技術領域,且公開了一種可模仿環境條件的芯片性能演示倉,包括倉體,所述倉體的側面設置有倉門,所述倉體的正面固定連接有性能檢測控制面板,所述倉體的正面設置有觀察窗,所述倉體的正面固定連接有濕度數值顯示屏、溫度數值顯示屏和壓力數值顯示屏,所述濕度數值顯示屏的下方設置有濕度調節旋鈕。該可模仿環境條件的芯片性能演示倉,通過對倉體上壓力調節旋鈕、溫度調節旋鈕或濕度調節旋鈕的旋轉,對倉內的濕度、溫度以及施加在芯片主體上的壓力進行調節,通過性能檢測控制面板對芯片的工作狀態進行展示,便于調節,便于展示,可有效的展現在不同工作環境下芯片的性能情況,更加直觀的展示結果。
聲明:
“一種可模仿環境條件的芯片性能演示倉” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)