本發明公開了一種基于離子型銥配合物電致化學發光與分子印跡識別技術聯用快速檢測可待因的方法。首次將陽離子交換劑Nafion、多壁碳納米管與離子型銥配合物制備復合溶液,取適量滴涂在電極表面制得[(bpq-OCH3)2Ir(dcbpy)]+PF6-/MWCNT/Nafion電致化學發光修飾電極;再采用電聚合法在該修飾電極上制備分子印跡層。首次實現了基于離子型銥配合物電致化學發光-電聚合分子印跡識別對可待因的檢測,靈敏度較高、選擇性好,在1.0×10-11~5.0×10-9mol·L-1有很好的線性,線性方程為IECL=11.21log?C+127.98,r=0.9962,檢出限達到9.23×10-12mol·L-1(S/N=3)。
聲明:
“基于離子型銥配合物電致化學發光-電聚合分子印跡識別檢測可待因的新型方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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