本發明涉及一種基于石墨烯/金@銀納米顆粒修飾電極檢測碘離子的方法,屬于分析檢測技術領域。本發明首先制備石墨烯/金@銀納米顆粒修飾電極,然后利用碘離子(I?)可以在銅離子的存在下將電極表面的銀單質氧化為碘化銀,利用修飾電極表面銀的溶出伏安信號的降低來實現對目標碘離子的檢測。該方法將氧化還原反應與電化學溶出伏安檢測法相結合,具有非常高的檢測靈敏度,具有操作簡單,特異性強,靈敏度高且不需要復雜儀器的優點,可以應用于實際樣品中碘離子的高靈敏檢測。
聲明:
“基于石墨烯/金@銀納米顆粒修飾電極檢測碘離子的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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