一種用于移除電磁輻射探測電路的生長襯底的方法,所述電磁輻射特別是在紅外范圍或可見光范圍內的電磁輻射,所述探測電路包括由通過液相外延或氣相外延或通過分子束外延而獲得的Hg(1-x)CdxTe制成的探測所述輻射的層,所述探測電路混接在讀取電路上。該方法包括:使生長襯底經受機械拋光或化學-機械拋光步驟或化學蝕刻步驟以減小其厚度,直至探測電路的材料與生長襯底之間的界面區域;以及使由此獲得的界面經受碘處理。
聲明:
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