本發明涉及DNA自組裝膜技術領域,具體涉及一種基于酶水解能力的基片表面HP?DNA發卡構型的定量評測及消除背景信號的方法。具體步驟包括:通過高溫變性去除二聚體;將基片浸入酶量為100U~300U的核酸外切酶I緩沖液中水解;利用電量積分技術確定電極表面HP?DNA發卡構型的比例。本發明基于核酸外切酶I對ssDNA和HP?DNA發卡構型水解能力的差異,結合電化學方法定量評測基片表面HP?DNA發卡構型的比例。此外,核酸外切酶I的使用還可有效消除由非發卡構型引起的背景信號,從而極大的提高Hairpin?DNA基生物傳感器的檢測靈敏度。
聲明:
“基于酶水解能力的基片表面HP DNA發卡構型的定量評測及背景信號消除方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)