本發明屬于化學測量技術領域,公開了一種熒光定量的測量方法,本發明所述熒光定量的測量方法在同樣的條件下,分別測量反應液所產生的熒光強度I0和待測樣品液與反應液混合后所產生的熒光強度I;由反應液所產生的熒光強度I0和待測樣品液所產生的熒光強度I計算出待測樣品液真實濃度C,其中I/I0=KC,K為熒光系數。本發明所述熒光定量的測量方法中所述反應液所產生的熒光強度I0的測量和待測樣品液與反應液混合后所產生的熒光強度I的測量均在同樣的環境中進行,可以減少光源衰減與環境溫度的影響,同時無需設立空白樣或對照樣。而且本發明所述測量方法操作簡單,樣本不需要進行任何處理,對儀器的要求低,簡易的熒光儀即可完成測量。
聲明:
“熒光定量的測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)