本實用新型公開了一種超聲波無損檢測減少盲區大晶片斜探頭,涉及超聲波無損檢測技術領域。本實用新型有一探頭主體,在探頭主體的底部設置一層保護膜;保護膜的底端邊緣與其上端邊緣之間構成三角形檢測區,底端邊緣打磨長度為保護膜厚度的1.8-2.1倍。優點:本實用新型主要通過減少探頭前沿長度的方法,達到超聲波無損檢測時減少一次波盲區的目的,這樣探頭可以更貼近工件被檢測區域。
聲明:
“超聲波無損檢測減少盲區大晶片斜探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)