本實用新型公開一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置,包括底座、上蓋、抵頂機構以及測試電路;該上蓋上形成有適合于抵頂機構的斜槽、對位放置探測器成品的定位槽以及可起到減少電磁信號反射作用的若干個鏤空孔;該抵頂機構用于使放置入的探測器成品之FPC板精確抵頂于IC板焊接端子之上表面;該PCB板上焊接固定有IC板插口座、供電插座及引出線、以及數據傳輸接線柱,該IC板一端插置于IC板插口座之熱插拔接口上、在另一懸空端上則形成有IC板焊接端子。與現有技術相比,本實用新型大大提高了測試效率,而且不會像傳統焊接測試法損傷到FPC金手指,測試完畢后探測器成品在外觀上不會受到任何損傷,且能做到很好的ESD防護,最終達到無損測試的目的。
聲明:
“探測器靈敏度性能的無損測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)