本發明公開了一種基于光纖光譜技術的蘋果表面早期損傷快速無損識別方法,該方法包括以下步驟:收集完好無損和表面有輕微損傷蘋果樣本隨機分配,建立校正樣本集和檢驗樣本集;利用光譜采集系統采集校正樣本集和檢驗樣本集中蘋果樣本的光譜反射率,得到校正和檢驗樣本集原始光譜數據;采用標準正態變換(SNV)對原始光譜數據進行預處理,并利用主成分分析方法對預處理后的光譜數據進行降維,以提取能反映蘋果表面早期損傷的特征光譜,建立校正和檢驗樣本集特征數據庫;最后,利用簡化的K最近鄰(SKNN)模式識別方法,建立蘋果表面早期損傷的識別模型。本發明基于光纖光譜技術結合化學計量學,可快速、無損識別出表面有輕微損傷的蘋果。
聲明:
“基于光纖光譜技術的蘋果表面早期損傷快速無損識別方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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