本發明屬于電磁無損檢測領域,并公開了一種基于缺陷漏磁場源與主動探測磁源的電磁檢測方法。其包括(a)將待檢測構件磁化, 使得該待檢測構件在其缺陷處形成漏磁場,該漏磁場是以該缺陷為圓心,半徑為r1的微磁源空間域;(b)將設置有磁敏元件的探測磁源在缺陷的上方掃掠經過,使得漏磁場與探測磁源自身的磁場進行磁疊加形成磁擾動,其中,探測磁源自身的磁場是以該探測磁源為圓心,半徑為r2的探測磁空間域;(c)在距離待檢測構件表面r1+r2的提離范圍內磁敏元件拾取磁擾動,從而完成缺陷的電磁檢測。通過本發明,實現主動式檢測,同時增大檢測提離距離,避免傳感器緊貼檢測時的接觸磨損及抖動問題,也實現在同一提離檢測狀態下檢測信號的增大。
聲明:
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