本發明涉及一種硬脆光學材料的低亞表面損傷檢測方法,該方法通過測試儀器準備、樣品表面損傷的檢測來獲得待測樣品的布儒斯特角,并進一步利用該布儒斯特角表征樣品的表界面粗糙度。其中,測試儀器包括刻度盤、載物臺、激光器、第一偏振片、光強度計及第二偏振片,結構簡單、成本低,利用線偏振光準確地測出了入射到樣品上的光線的布儒斯特角大小,并以此表征樣品的表界面粗糙度,可將測量偏差保持在1/100以內,檢測結果準確率高,且檢測方法簡單、快速,對待檢測樣品的表面無損傷;同時,本發明的方法還可以用于測量光學元件其他的微表面結構,并能達到納米量級的表面微結構的檢測,為制備出高質量的高損傷閾值薄膜提供了條件。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)