本發明涉及一種透照構件的X射線檢測方法,包括以下步驟:確定待檢測構件中每個待檢測區域的最小厚度和最大厚度;將至少兩張膠片封裝在暗盒中形成膠片系統;根據待檢測區域的厚度范圍和所述膠片系統確定透照射線檢測工藝;根據所述透照射線檢測工藝對所述待檢測構件中待檢測區域進行檢測;將所述至少兩張膠片沖洗晾干,并觀察所述至少兩張膠片上顯示的影像,分析檢測結果,可以使得待檢測區域通過一次透照即可查出各部位的缺陷,另外,即使單個待檢測構件存在多種厚度,也不必采用多種工藝,有助于簡化無損檢測的過程,節約時間和材料成本,提高工作效率。
聲明:
“透照構件的X射線檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)