本發明公開一種針對高深寬比曲面構件面形測量的測量系統,其包括雙探頭測量機構、探頭驅動機構、構件移動機構,雙探頭測量機構包括激光干涉光針及掃描觸針,兩者探頭間隔設置,并依次對曲面構件進行掃描;探頭驅動機構驅動雙探頭測量機構對曲面構件進行隨形掃描;構件移動機構帶動曲面構件作回轉運動。本發明還公開了基于上述測量系統的測量方法,其綜合激光干涉光針在曲面輪廓、無損檢測方面的優勢以及高長徑比掃描觸針對大曲率、小間隙結構的檢測優勢,并優化其測量方法,實現了復雜高深寬比曲面構件跨尺度特征的全表面檢測。
聲明:
“針對高深寬比曲面構件面形測量的測量系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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