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    薄壁結構超聲共振測厚頻譜分析內插校正方法

    956   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:29
    本發明創造應用于超聲波無損檢測領域,薄壁結構超聲共振測厚頻譜分析內插校正方法。包括:步驟1、采用超聲共振法進行薄壁結構檢測,獲取薄壁結構的表面回波和共振回波;步驟2、對共振回波信號截取指定長度的樣本進行傅里葉變換,得到頻譜;步驟3、采用內插法對所述頻譜進行校正;步驟4、計算壁厚度。本發明利用頻譜內插校正方法,可以提高周期信號頻譜頻率估計精度。針對超聲共振測厚信號,可以在不提高采樣頻率的前提下,減小共振頻率的測量誤差,能夠減小分析誤差,實現薄壁結構厚度損失的精確估計,提高分析壁厚的精度。
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