本發明公開一種磁光光致發光光調制反射和光調制透射光譜聯合測試系統。該系統包括寬波段紅外光源和傅立葉變換部件、具有紅外光學窗口的低溫強磁場系統、用于寬波段光入射和收集的反射/透射光路子模塊、泵浦/調制兩用的交流輸出激光器及其引導光路、計算機控制的多功能光譜測試切換部件、光譜信號探測與解調模塊、以及控制系統運行的計算機。本發明能夠針對半導體材料的同一特定光斑位置實現磁光光致發光、光調制反射和光調制透射的聯合測量,形成材料不同磁場光譜特性的可靠比對。本發明具有全面、無損和高靈敏優點,非常適用于半導體光學性質、電子結構和磁效應特性的光譜學檢測。
聲明:
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