本發明提供了一種存儲芯片的測試裝置及方法,涉及手機存儲技術領域。該測試裝置包括:測試主板,所述測試主板上設置有中央處理器CPU、可編程邏輯器件FPGA、插座SOCKET夾具以及至少一個存儲芯片eMMC顆粒;所述eMMC顆粒放置于所述SOCKET夾具中,所述FPGA通過一個通路與一個eMMC顆粒連接。本發明的方案實現eMMC顆粒的批量無損檢測,提升測試驗證效率,通過FPGA將CPU及eMMC顆粒之間的DATA和CLK信號進行傳輸與緩存,并在時序上進行相位移動處理,分別記錄異常狀態下建立時間和保持時間的時序邊界,獲取eMMC顆粒的數字化的時序裕量窗口信號,代替了傳統的示波器UT測試。
聲明:
“存儲芯片的測試裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)