本發明公開了一種基于遺傳算法的超聲傳感器陣列參數的分析方法,用于對GIS殼體焊縫內部缺陷進行檢測,屬于無損檢測領域。該方法以全聚焦成像法則為目標函數,通過遺傳算法對超聲傳感器陣列的中心頻率和孔徑尺寸進行優化。該方法的優勢在于通過與優化算法相結合對超聲傳感器陣列參數進行優化,可以在全局范圍內找出最佳的檢測參數組合,克服以往根據經驗來多次調整陣列參數,且未必得到最優的陣列參數下的檢測結果。由于焊縫中缺陷要比各向同性材料中的缺陷檢測難度大,通過該方法找到最優的檢測參數,更有利于焊縫內缺陷的檢出;因此,此方法具有很強的實用性,并可提高GIS殼體焊縫內部缺陷的檢出率。
聲明:
“基于遺傳算法的超聲傳感器陣列參數的分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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