本發明公開了一種評估系統單粒子功能失效率的傳播分析方法,所述方法通過對電路系統進行模塊劃分、從單粒子軟錯誤傳播的角度,分析單粒子軟錯誤從產生到傳播至輸出端的概率,最終獲得系統的單粒子功能失效率。本發明方法不需要進行重離子試驗就可以成功的預測用于太空環境中的電路系統的單粒子功能失效率,為太空環境中設備的選用提供了良好的判斷依據,避免出現設備在地面使用良好,而一旦到達太空環境就發生嚴重的單粒子功能失效現象出現,并且分析結果可以作為對系統和模塊做抗輻射加固的依據。
聲明:
“評估系統單粒子功能失效率的傳播分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)