本發明公開了一種監測器件的低工作電壓失效的測試方法,涉及半導體領域。該方法為:建立多個測試結構,所有的所述測試結構的結構均相同;在每個所述測試結構上均放置有寬度不同的遮蓋板;對所有的所述測試結構進行離子摻雜,被遮蓋板覆蓋的區域不能進行離子摻雜,能進行離子摻雜的區域為所述測試結構的工作區間;同時測試所有所述測試結構的飽和電流和工作電壓,根據測試結果獲取所述測試結構所對應的工作區間是否存在是失效,從而獲取器件的低工作電壓是否失效。該方法能夠快速確認低工作電壓是否存在失效現象;批量快速找出制程在該類問題的工作區間,縮短了制程開發周期,有效節約了開發成本。
聲明:
“監測器件的低工作電壓失效的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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