本發明公開一種壓接型IGBT器件的短路失效測試方法及裝置,其中方法包括:獲取待測壓接型IGBT器件在短路失效狀態下的第一電壓和第一電流,第一電壓為待測壓接型IGBT器件的集電極與發射極之間的電壓,第一電流為待測壓接型IGBT器件的集電極電流;根據第一電壓和第一電流,計算待測壓接型IGBT器件在短路失效狀態下的失效電阻;在待測IGBT器件發生短路失效后的預設時間內獲取失效電阻的變化率;根據失效電阻的變化率確定待測壓接型IGBT器件的短路失效特性。本發明通過短路失效測試可以確定出待測壓接型IGBT器件的失效電阻的電阻變化率,進而可以評估待測壓接型IGBT器件的短路失效特性,可實現待測壓接型IGBT器件投入到電力系統中進行可靠運行,并可以增強其使用壽命。
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