本發明公開了一種嵌入式存儲芯片打線導致芯片失效的解決方法,包括主控芯片,主控芯片上設置有efuse模塊;包括以下步驟:檢測efuse PIN是否有效,若是,讀取efuse前64bit數據,并檢測efuse內有無數據或者第一、第二份數據均錯,若無數據或者第一、第二份數據均錯,跳過NAND BOOT進入EP0 INIT,進入主控芯片主循環;否,則讀取ROM的pad配置表;若有數據或第一、第二份數據無錯,則找到正確配置信息;若配置信息正確則根據efuse信息配置管腳,若配置信息不正確且efuse有數據且三份均為錯,讀取ROM的pad配置表;進入pad配置流程,進行NAND BOOT;進入主控芯片主循環;進入vendor efuse編程命令流程和等待host命令;有效解決嵌入式存儲芯片打線偏差導致芯片失效,需重新定義芯片管腳功能的難題。
聲明:
“嵌入式存儲芯片打線導致芯片失效的解決方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)