本發明公開了一種ATE快速獲取存儲器失效地址的方法,掃瞄整個失效位抓取RAM時,不再從起始地址開始讀,而是先從矢量RAM中讀取第一個失效周期,獲取該失效周期指向的地址引腳狀態,構造以字符表示的地址引腳狀態與以數值表示的引腳狀態的對應關系,然后將第一個失效周期對應的地址引腳狀態轉換成16進制行地址和列地址,將該行地址和列地址作為掃瞄整個失效位抓取RAM的起始地址。本發明能夠合理使用ATE所存在的硬件資源,優化獲取失效地址的方法,減少測試時間。
聲明:
“ATE快速獲取存儲器失效地址的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)