本發明公開了一種半導體激光器退化機制的檢測方法,其包括:在同等條件下分別測量失效的半導體激光器的瞬態降溫曲線和標準工作的半導體激光器的瞬態降溫曲線,對兩瞬態降溫曲線進行比對,得到失效的半導體激光器的退化機制。本發明利用了半導體激光器瞬態傳熱特點,通過正向電壓測結溫的方法或者其他方法得到激光器的瞬態降溫曲線,再通過比較失效后激光器的瞬態降溫曲線和標準工作的激光器的瞬態降溫曲線的差異來找到激光器發生退化的位置,并根據變化量的大小初步判定其可能的失效機制,從而快速的確定激光器失效的原因并找到解決方法,最終延長激光器的工作壽命。
聲明:
“半導體激光器退化機制的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)