本發明公開了一種對相變存儲器單元相變能力的快速檢測方法,不需要使用開關單元,而是基于相變材料活化能特性,以及基于相變材料本征特性,通過各檢測步驟獲得了電阻漂移系數ν與剩余壽命N的關系,以及活化能Eσ與剩余壽命N的關系。通過測試與之相關聯的電阻漂移過程來判斷相變材料層的相變性能,不需要開關器件,而且測試過程始終為低的可讀電流,不會降低器件壽命??梢砸揽繉φ战M來判斷單元處于何種體質階段,距離失效還有多遠,而無需完整測試整個失效過程,大為減少測試時間。
聲明:
“對相變存儲器單元相變能力的快速檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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