本實用新型提供了一種檢測電路結構、陣列基板及顯示面板,所述檢測電路結構包括多個待檢測走線和多個信號通入走線,每一信號通入走線上包括斷開的至少兩個子走線,每一信號通入走線的各子走線之間的斷開區域對應有待檢測走線,每一信號通入走線上的各子走線之間通過連接線進行連接,各子走線之間的斷開區域所對應的待檢測走線與連接線之間形成第一重合區域;連接線的兩端分別通過第一過孔和第二過孔與信號通入走線連接,并通過第三過孔在第一重合區域與待檢測走線連接。上述方案,增加了過孔之間的距離,使得ITO爬坡處膜質比較好,有電流通過時,不容易發生ITO燒斷的現象,導致檢測失效。
聲明:
“檢測電路結構、陣列基板及顯示面板” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)